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Metromeet presenta el Programa de la 6ª edición
Metromeet, la única Conferencia Europea dedicada a la Metrología Industrial Dimensional, reunirá en Bilbao durante dos días a las empresas y organismos más importantes del panorama metrológico actual: la NASA, el NIST, Innovalia Metrology, SEAT, BMW, Renishaw, Mitutoyo y muchos más. Metromeet, organizada por Asociación Innovalia con el apoyo de Innovalia Metrology, se celebrará en el Palacio Euskalduna los días 25 y 26 de febrero de 2010. Metromeet contará con la presencia de expertos de prestigio internacional que impartirán los dos tutoriales, 20 presentaciones y 4 keynotes que conforman el Programa de la 6ª edición de la Conferencia. Con el objetivo de dar cobertura a todos los aspectos de la Metrología, las presentaciones se dividirán en varios tracks de diversas temáticas: Metrología Óptica, Soluciones Metrológicas, Metrología Industrial, Calibración y Verificación, Nano y Micrometrología, y Software Metrológico. Entre los ponentes de Metromeet, destacan nombres como Dr. William Zhang (NASA Goddard Space Flight Center), Marcin B. Bauza (InsituTec Inc), Dr. Han Haitjema (Mitutoyo Research Center Europe B.V.), Toni Ventura-Traveset (Innovalia Metrology), Dr. Ing. Dietrich Imkamp (Carl Zeiss Indutrial Metrology) y Martin Wäny (AWAIBA). Metromeet se presenta como una oportunidad única para las empresas, pues se ha consolidado como un punto de encuentro idóneo para hacer nuevos contactos y ampliar redes de negocios. En épocas de estrés económico, invertir en formación es clave: en Metromeet aprenderá cómo mejorar la calidad de sus productos y la eficiencia de sus procesos industriales. Toda la información relativa a la conferencia está disponible en www.metromeet.org |
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