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Metromeet clausura con éxito su VI edición
Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional organizada por la Asociación Innovalia, ha celebrado su sexta edición los días 25 y 26 de febrero en Bilbao, y ha reunido a ponentes de empresas y organismos excepcionales, como la NASA, el NIST, SEAT o Innovalia Metrology, que han impartido los dos tutoriales, tres keynotes y 20 presentaciones que componen la Conferencia. En Metromeet se abordaron temas como el software metrológico, verificación y calibración, metrología industrial o micro y nanometrología, que ha cobrado especial importancia con ponencias como la de John Villarrubia, experto del NIST en metrología dimensional a escala nanométrica; Óscar Lázaro, de Asociación Innovalia, que mostró las últimas novedades del proyecto NanoCMM; Ernst Treffers, especialista en la nueva generación de micro piezas o el Prof. Dr.-Ing. Eberhard Manske, que explicó los pasos necesarios para llegar a la medición nanométrica en tres dimensiones. Además, Metromeet contó con tres reconocidos ponentes para impartir los keynotes de la Conferencia: el día 25, el Dr. Han Hajetma, de Mitutoyo, abordó los problemas a la hora de diseñar instrumentos de medida de textura de superficie. El viernes 26, Maurizio Ercole hizo un análisis de las máquinas de medición por coordenadas después de casi 50 años de historia y, por último, William Zhang, del Centro Goddard de Vuelo Espacial de la NASA, expuso las últimas novedades y tendencias en el ámbito de la metrología aeronáutica. El Programa de Metromeet lo completaron dos tutoriales, sesiones de dos horas de duración, en las que los ponentes ofrecen una visión completa sobre tecnologías, herramientas, instrumentos y métodos de trabajo, así como las claves para su implementación. Antonio Ventura-Traveset, Director General de Datapixel, impartió el primer tutorial de la Conferencia y explicó cómo las nuevas tecnologías nos ofrecen capacidades sin precedentes para capturar grandes cantidades de datos dimensionales en poco tiempo. Basándose en una serie de técnicas y métodos con aplicabilidad real en situaciones industriales, expuso los pros y contras de los diferentes procesamientos y métodos de análisis de nuble de puntos. El segundo tutorial corrió a cargo de Erki Ikkonen, profesor de la Universidad de Helsinki, que explicó los beneficios del uso de la medición con interferómetro y la importancia de utilizar luz blanca para obtener mejores resultados. El profesor Ikkonen hizo especial hincapié en la aplicación de la medición con interferómetro en el ámbito de la metrología dimensional Durante el acto de clausura de Metromeet se entregó el Premio a la Mejor Ponencia, un galardón que el Comité Técnico de Metromeet entrega cada año. En esta edición, se quiso premiar a Ramón Paricio, de SEAT, por la calidad del contenido, muy visual y dinámico, de su presentación “Precisión en la AutoEmoción”, así como por su capacidad de comunicación. Ramón Paricio abordó el futuro de la medición en la industria del automóvil, y señaló que aún queda un largo camino por recorrer. Quiso resaltar que el principal desafío al que se enfrenta ahora mismo el sector es el tratamiento de los datos y la incorporación eficiente de los procesos de producción son un auténtico desafío para los sistemas de medición Por sexto año consecutivo, Bilbao ha sido el punto de encuentro para expertos y compañías líderes vinculadas a la metrología industrial de todo el mundo, y Metromeet se ha consolidado como un foro de debate imprescindible para los profesionales del sector. |
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