Convocation d’exposés
Metromeet est une Conférence Internationale sur la Métrologie Industrielle Dimensionnelle qui a suscité l’intérêt des professionnels du monde entier.
Nous vous invitons à envoyer votre exposé pour l’édition de cette année. Nous sommes convaincus que le programme 2010 sera fantastique et très intéressant.
Envoyez votre exposé avant le 31 Juillet

Le meilleur rapporteur de l’évènement recevra le prix au meilleur exposé Metromeet ® 2010. Vous pouvez envoyer la documentation par e-mail (info@metromeet.org) ou remplir le formulaire qui figure dans la page d’Envoi d’Exposés
Tutoriels
Les tutoriels offrent une vision complète des technologies, outils, instruments et méthodes de travail d’une manière claire et concise quant aux aspects pratiques de leur implémentation.
Le tutoriel possède une durée de 1 heure et 45 minutes, plus 15 minutes pour les requêtes et questions.
Tracks
D’autre part, les présentations porteront sur des questions d’actualité quant à Métrologie Industrielle, état de l’art, problèmes et solutions, exigences de qualité, réglementations, etc.
Le track possède une durée de 30 minutes, plus 15 minutes pour les requêtes et questions.
Date limite : 31 Juillet 2008.
Documentation:
- Résumé de la présentation / tutoriel
- Curriculum vitae résumé avec les données de contact de l’auteur (email et nº de tél.)
- Version préliminaire de la présentation (10 pages)
Topics
- Enseignement académique en Métrologie
- Accréditation et certification
- Sport et Métrologie
- Avances en micro- et nanométrologie
- Futures tendances en R+D métrologique
- Derniers développements et solutions dans l’aire de la mesure optique sans contact et des systèmes de numérisation 3D
- Problèmes de mesure des grandes pièces de travail et leurs solutions
- Méthodes, organisation et meilleures pratiques dans l’aire de la métrologie industrielle
- Métrologie et économie
- Nouveaux développements en instruments de mesure
- Nouveaux développements en Métrologie Virtuelle
- Vision générale des exigences dans les processus industriels de qualité et perfectionnement des processus basés sur la Métrologie
- Développements récents dans l’aire du logiciel métrologique
- Solutions pour l’inspection in-line
- État de l’art et défis de la métrologie coordonnée multi-capteur
- Incertitude, traçabilité et fiabilité dans la mesure avec CMM