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Exitosa edición de Metromeet 2008
Metromeet 2008, IV Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional tuvo lugar en Bilbao los días 21 y 22 de febrero, confirmando su compromiso con la comunidad científica internacional del sector de la Metrología Industrial Dimensional.
Los profesionales que allí se dieron cita, manifestaron su satisfacción no sólo ante la elevada calidad y practicidad de los contenidos presentados sino también ante la magnitud del elenco de expertos que Metromeet consiguió reunir como ponentes. Este encuentro, recibió visitantes de distintas áreas como Nanotecnología, Desarrollo de Software, Aeronáutica y Automoción, entre otros.
La Conferencia fue esponsorizada por la Asociación Innovalia, Faro, AAT y Renishaw. El acto de inauguración fue presidido por Dña. Izaskun Artetxe, representante del Dpto. de Innovación y Promoción Económica de la Diputación Foral de Bizkaia, entidad colaboradora de esta edición.
Finalizada la conferencia, Jesús de la Maza; presidente de la Asociación Innovalia, entregó el premio a la mejor ponencia al Sr. Chris Evans por su explicación sobre la importancia del aumento de la precisión en la metrología y en los procesos de fabricación. Además, convocó a los asistentes a la próxima edición del 2009, que se celebrará los días 19 y 20 de marzo.