Convocatoria de ponencias
No pierda la oportunidad de participar en esta conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional que ha captado la atención de los profesionales más prestigiosos del sector.
Fecha límite para el envío de ponencias: 18 Septiembre 2008
Envíe su ponencia antes del 18 de Septiembre
El mejor conferenciante del evento recibirá el premio a la mejor ponencia Metromeet ® 2009.
Puede enviar la documentación por e-mail (info@metromeet.org) o cumplimentando el formulario que encontrará en la página de Envío de Ponencias
Tutoriales
Los tutoriales ofrecen una visión completa sobre tecnologías, herramientas, instrumentos y métodos de trabajo de forma clara y concisa sobre los aspectos prácticos de su implementación.
El tutorial tiene una duración de 1 hora y 45 minutos además de 15 minutos para ruegos y preguntas.
Presentaciones
Por otro lado, las presentaciones girarán en torno a temas de actualidad sobre Metrología Industrial, estado del arte, problemas y soluciones, requerimientos de calidad, normativas, etc.
El track tiene una duración de 30 minutos más 15 minutos para ruegos y preguntas.
Fecha limite: 18 de Septiembre de 2008.
Documentación:
- Resumen de la presentación / tutorial
- Curriculum vitae resumido con los datos de contacto del autor (email y nº de telf.)
- Versión preliminar de la presentación (10 páginas)
Temas
- Educación Académica en Metrología
- Acreditación y Certificación
- Avances en micro- y nanometrología
- Futuras tendencias en I+D metrológico
- Últimos desarrollos y soluciones en el área de la medición óptica sin contacto y los sistemas de digitalización 3D
- Problemas de medición de grandes piezas de trabajo y sus soluciones
- Métodos, organización y mejores prácticas en el área de la metrología industrial
- Metrología y economía
- Nuevos desarrollos en instrumentos de medición
- Nuevos desarrollos en Metrología Virtual
- Visión general de los requisitos en los procesos industriales de calidad y perfeccionamiento de los procesos basados en Metrología
- Desarrollos recientes en el área del software metrológico
- Soluciones para la inspección in-line
- Estado del arte y retos de la metrología coordinada multi-sensor
- Incertidumbre, trazabilidad y fiabilidad en la medición con CMM
- Tolerancias dimensionales y geométricas