Convocatoria de ponencias
METROMEET invita a investigadores y a expertos en Metrología Industrial Dimensional a compartir sus experiencias acerca de los temas que a continuación proponemos.
A partir del 21 de abril de 2010, todos los interesados pueden enviar sus propuestas a (info@metromeet.org) hasta el próximo 31 de julio de 2010.
¡Manda tu ponencia y forma parte de este evento internacional! En septiembre se informará de las propuestas seleccionadas por el Comité.
Por favor, utilice la plantilla oficial para el envío de su abstract. Solo se considerarán los abstracts presentados en la plantilla oficial.
En METROMEET, investigadores y expertos internacionales presentarán trabajos acerca de aspectos relacionados con temáticas generales de la conferencia. Puedes consultar los temas propuestos en la columna derecha de esta página.

Hay tres tipos diferentes de presentaciones:
Tutoriales
Los tutoriales ofrecen una visión completa sobre tecnologías, herramientas, instrumentos y métodos de trabajo de forma clara y concisa sobre los aspectos prácticos de su implementación. El tutorial tiene una duración de 1 hora y 45 minutos además de 15 minutos para ruegos y preguntas.Keynotes
Los keynotes son lecturas magistrales impartidas por líderes de la industria. El keynote debe tener una duración de 50 minutos y 10 minutos más para preguntas.Presentaciones
Por otro lado, las presentaciones girarán en torno a temas de actualidad sobre Metrología Industrial, estado del arte, problemas y soluciones, requerimientos de calidad, normativas, etc. Las presentaciones se imparten en sesiones paralelas. Las presentaciones tienen una duración de 40 minutos más 5 minutos para ruegos y preguntas.El plazo para el envío de ponencias terminará el 31 de julio. Los ponentes recibirán información acerca de la evaluación durante el mes de septiembre.
METROMEET publicará los ponentes seleccionados por el Comité Técnico en Septiembre 2010. Documentación necesaria para la evaluación de las ponencias por parte del Comité Técnico:
- Resumen de la presentación / tutorial y relación con la temática de la conferencia.
- Curriculum vitae resumido con los datos de contacto del autor (email y nº de telf.)
- Información de contacto del autor de la ponencia (email y teléfono)
Para información adicional, visite nuestra página web: www.metromeet.org o contacte con Susana Díez o Sander Hanenberg:(info@metromeet.org) o por teléfono (+34) 94 480 51 83.
Temas
- Educación Académica en Metrología
- Acreditación y Certificación
- Avances en micro- y nanometrología
- Futuras tendencias en I+D metrológico
- Deporte y Metrología
- Últimos desarrollos y soluciones en el área de la medición óptica sin contacto y los sistemas de digitalización 3D
- Problemas de medición en piezas de gran tamaño y posibles soluciones
- Métodos, organización y mejores prácticas en el área de la metrología industrial
- Metrología y economía
- Nuevos desarrollos en instrumentos de medición
- Nuevos desarrollos en Metrología Virtual
- Visión general de los requisitos en los procesos industriales de calidad y procesos de mejora basados en metrología
- Últimos desarrollos en el área de software metrológico
- Soluciones para la inspección in-line
- Estado del arte y retos de la metrología coordinada multi-sensor
- Incertidumbre, trazabilidad y fiabilidad en la medición con CMM
