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Metromeet 2010 lanza el Call for Papers

Metromeet invita a profesionales y expertos en Metrología Industrial Dimensional de todo el mundo a participar en la sexta edición de la Conferencia mediante el envío de ponencias. A partir del 28 de abril y hasta el 31 de julio, puedes enviar tu ponencia por correo electrónico o utilizando el formulario habilitado para ello en la web.
En Metromeet habrá tres tipos diferentes de presentaciones: tutoriales, de dos horas de duración; presentaciones, de 45 minutos; y keynotes o lecturas magistrales, con una duración de 50 minutos y 10 minutos extra para el turno de preguntas y respuestas.
Pulsa aquí para obtener más información acerca del Call for Papers de Metromeet.

Bill Rippey, galardonado con el Premio al Mejor Ponente en Metromeet

Bill Rippey ha sido galardonado con el Premio al Mejor Ponente en Metromeet 2009 por su keynote DMSC Offers New DMIS Certification to Enable Interoperatibility, acerca del Programa de Certificación DMIS lanzado por el Consorcio de Estándares Dimensionales, que permitirá reducir incompatibilidades entre los sistemas de automatización, ahorrar dinero y mejorar la calidad para fabricantes y proveedores.
Su amplia experiencia y la alta calidad de su keynote, le han hecho justo ganador del Premio al Mejor Ponente de Metromeet 2009.

Metromeet clausura con éxito su V edición

Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, celebró su quinta edición los días 26 y 27 de marzo en el Palacio Euskalduna de Bilbao. Metromeet ha contado este año con más de 120 asistentes, venidos de todo el mundo: Argentina, EEUU, Reino Unido, Holanda, Alemania, Rusia, España, Italia o Tailandia entre otros, que pudieron disfrutar de los dos tutoriales, cuatro keynotes y 25 presentaciones que componen la Conferencia. La principal novedad de este año, el track Deporte y Metrología, reunió a un gran número de asistentes, deseosos de conocer los secretos de la Fórmula 1. Debido a esta respuesta tan entusiasta, la organización repetirá este track el próximo año. Uno de los aspectos más importantes de la Conferencia es el notable crecimiento de la nanotecnología; los asistentes pudieron aprender acerca de este apasionante tema en varias presentaciones.

En su quinta edición, METROMEET se ha consolidado como la Conferencia sobre Metrología Industrial Dimensional más importante de Europa y se confirma como foro activo de intercambio de conocimiento y experiencia entre profesionales del sector. Metromeet quiere agradecer a los ponentes su contribución por la alta calidad de las presentaciones.
Esperamos volver a veros a todos en Metromeet 2010.