Thomas Campbell, ganador del Premio al Mejor Ponente

Cada año, el Comité Técnico de Metromeet premia a uno de los ponentes por impartir una excelente presentación. Esta edición, la decisión ha sido dura debido a la alta calidad de las ponencias. Finalmente, el Comité Técnico de Metromeet concedió el Premio al Mejor Ponente a Thomas Campbell (ICTAS, EEUU), por su presentación “Metrology for Additive Manufacturing Opportunities in a Rapidly Emerging Technology”. El Comité Técnico destacó la alta calidad de su presentación así como su aplicabilidad real.

Dos fantásticos tutoriales en Metromeet

Metromeet contará con dos tutoriales excepcionales a cargo de Antonio Ventura-Traveset (Datapixel) y Han Haitjema (Mitutotyo).  
El tutorial de Toni Ventura versará acerca del flujo de trabajo de la metrología virtual como el nuevo paradigma para la fabricación basada en el conocimiento. Analizará este nuevo escenario, empezando por las necesidades del equipo de ingenieros, y se definirá el nuevo paradigma basado en la virtualización de los procesos metrológicos. Por su parte, Han Haitjema explicará la importancia de la medición con interferómetro en el ámbito de la nanometrología, incluyendo técnicas detalladas para obtener la mejor precisión.

D. Bernabé Unda participará en la inauguración de Metromeet como invitado especial

Es un orgullo para Metromeet presentar D. Bernabé Unda  como invitado especial en la inauguración de la VIII edición de esta Conferencia única acerca de Metrología Industrial Dimensional. Queremos agradecer a Bernabé Unda, Consejero de Industria, Innovación, Comercio y Turismo  del Gobierno Vasco, su interés en Metromeet.

Nanometrología; la precisión mediante interferómetro

La nanometrología tendrá un lugar privilegiado en Metromeet: además de un track compuesto de tres presentaciones, Dr. Han Haitjema impartirá un tutorial de dos horas de duración en el que explicará la importancia de la medición con interferómetro en el ámbito de la nanometrología, incluyendo técnicas detalladas para obtener la mejor precisión. Regístrate en Metromeet y no te pierdas los últimos avances en nanometrología.

Metromeet ya tiene cuenta de Twitter

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Keynotes Metromeet 2012

Estamos orgullosos de anunciar los primeros Keynotes de la edición de 2012: Michael Meador Ph.D - NASA, Thomas Campbell, Ph.D. - (ICTAS), Virginia Tech y Gabriele Jansen - Jansen CEO /EMVA. Además de estos reconocidos keynotes, habrá ponentes de Mitutoyo, Imaging Lab, Micro electronics, Bruker, Innovalia Metrology, Universidad de Padua y muchos más. Visita el programa preliminar para conocer a todos los ponentes de la 8ª edición de Metromeet.